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深圳市启威测标准技术服务有限公司
主营：表面微观形貌SEM,材料断口观察SEM,表面成分分析EDS,微量污染物成分分析,涂镀层厚度测试,表面粗糙度量测
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X射线光谱方法测定覆盖层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射，这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。覆盖层单位面积质量（若密度已知，则为覆盖层线性厚度）..
用肉眼（目视）或在不大于10倍的放大镜下，检验金属的宏观组织和缺陷称为组织检验。在实验室中，常用的检验方法有酸蚀低倍检验、断口检验、塔形车削发纹检验和硫印试验等。酸蚀低倍检验，这是一种将制备好的试样，经过酸液腐蚀以后，来..
表面成分分析工具化学抽提法微谱技术实拍--气相色谱仪微谱技术实拍--气相色谱仪XRF法GC-MSLC-MSICP-MS核磁ICGPCXRD等金属材料测试常用方法湿法分析直读光谱（OES）电感耦合等离子体放射光谱（ICP-AES）电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）..
表面形貌评定的核心在于对特征信号无失真的提取和对使用性能的量化评定，国内外学者在这一方面做了 大量工作，提出了许多分离与重构方法。随着当今微机处理技术、集成电路技术、机电一体化技术等的发展。出现了用分形法、Motif法、功能..
SEM的二次电子成像分辨率约3nm背散射电子成像分辨率约300nmEDS成分分析的元素范围Be~U分析深度约1μm检测下限约1%空间分辨率约1μmSEM+ EDS常规服务项目:各种固体材料的形貌分析微区化学成分检测样品成分的线分布和面分布分析机械探针式..