由于接触式测量仪应用在复杂的生产现场,*受冲压机、空压机、或其它重型设备的振动干扰,而对于振幅为微纳米级、频率为若干赫兹的振动而言,其干扰也影响仪器正常精度的发挥,如果其干扰同测量仪自身的振动频率相似,较难察觉的微幅振动,将对测量精度的稳定性产生非常大的干扰,所以振动的消除常常成为棘手问题,因此测量仪制造商对于测量所处环境的振动频率与振幅均有一定的要求。
表面所具有的微观几何形状统称为表面形貌(surface topography), 其中表面被定义为- -种材料与其它材料之间的分界面" (在工程表面的情况下,一种材料是空气,另-种为固体材料,例如金属、塑料等)。固体表面是指固体上代表实体和周围环境边界的部分。工程表面形貌代表着工件表面的主要外部特征,是由加工过程中的各种工序产生的。
透射电子显微镜(trans mission electron microscope.TEM)是采用透过薄膜样品的电子束成像来显示样品内部组织形貌与结构的。它可以在观察样品微观组织形态的同时,对所观察的区域进行晶体结构鉴定(同位分析):其分辨率可达10nm,放大倍数可达40万-60万倍。此法用于薄层样品微观形貌观察与结构分析。透射电镜成像原理与光学显微镜类似,即以电子束为照明源,经聚光镜聚焦后照射样品,透射电子经成像系统聚焦、放大、成像,并由荧光屏.显示或底片记录。常用的方法有:**薄切片法、冷冻**薄切片法、冷冻蚀刻法、冷冻断裂法等。对于液体样品,通常是挂在预处理过的铜网上进行观察。