金相测厚:
金相法是通过用金相显微镜检查被测零件的断面来测量金属镀层及氧化物覆盖层的厚度,具有精度高、重现性好等特点。一般用于对镀层厚度有jing 确要求的产品测厚或校验和仲裁其他测厚方法。
测试设备:金相显微镜
参考标准:GB/T 6462, ISO 1463,ASTM B487
X射线光谱:
X射线光谱方法测定覆盖层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射,这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。覆盖层单位面积质量(若密度已知,则为覆盖层线性厚度)和二次辐射强度之间存在一定的关系。该关系首先由已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。若覆盖层材料的密度已知,同时又给出实际的密度,则这样的标准块就能给出覆盖层线性厚度。
测试设备:X射线荧光测厚仪
参考标准:GB/T 16921, ISO 3497,ASTM B568
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