龙岩表面微观形貌SEM报价 为您服务

光学探针式测量方法:光学探针式测量方法原理上类似于机械探针式测量方法，只不过探针是聚集光束。根据采用的光学原理不同，光学探针可分为几何光学原理型和物理光学原理型两种。几何光学探针利用像面共轭特性来检测表面形貌，有共焦显微镜和离焦检测两种方法:物理光学探针利用干涉原理通过测量程差来检测表面形貌，有外差干涉和微分干涉两种方法。光学探针是非接触测量，，但需要一套高精度的调焦系统。

一个制件表面的微观几何形貌特性在很大程度上影响着它的许多技术性能和使用功能。表面的耐磨性、密封性、配合性质、摩擦力、传热性、导电性、以及对光线和声波的反射性，液体和气体在壁面的流动性、腐蚀性、涂层的附着力，电子元件以及人造器官的性能，测量仪器和机床的精度、可靠性、振动和噪声等等功能，都与表面的几何结构特征有密切的联系"。通过检查加工后金属表面留下的纹理，常常可以发现工具或机床使用和操作中的缺点，如工具没有进行正确的调整和安装，或操作中的错误(错误的进给量和切削速度等)。表面的外观(外貌特征)有时也很重要，例如用于装饰的表面、汽车车身以及防冲挡板的薄钢板，其表面纹理对喷漆和电镀的牢固性和均匀性有很大的影响。油漆光滑的玻璃，要获得良好的、牢固和均匀的油漆表面要比油漆--个粗糙表面难得多。

X射线分析.
x射线是--种波长很短的电磁波，这是1912年由劳埃M.vonLaue指导下的的衍射实验所证实的。x射线衍射是利用X射线在晶体中的衍射现象来分析材料的晶体结构、晶格参数、晶体缺陷(位错等)、不同结构相的含量及内应力的方法。这种方法是建立在- -定 晶体结构模型基础上的间接方法，即根据与晶体样品产生衍射后的X射线信号的特征去分析计算出样品的晶体结构与晶格参数，并且可以达到很高的精度。然而由于它不是显微镜那样可以直接观察，因此也无法把形貌观察与晶体结构分析微观同位地结合起来。由于x射线聚焦的困难,所能分析样品的小区域(光班)在毫米数量级，因此对微米及纳米级的微观区域进行单独选择性分析也是无能为力的。