微量污染物成分分析-异物分析-深圳启威测实验室详细内容
异物分析方法
X射线光电子能谱分析(XPS)
工作原理:
X射线入射在样品上,样品原子中各轨道电子被激发出来成为光电子,根据不同原子的特征X射线光电子能谱来鉴别不同的元素,光电子的强度与样品中该原子的浓度有线性关系,因此可以进行半定量分析。
方法特点:
元素探测范围广,可进行化学态分析;样品量少,可做痕量元素的分析;探测深度浅,采样深度约2nm;样品或表面必须洁净,易受污染;影响定量分析的因素非常复杂,仅半定量分析。
案例分析:
活塞表面涂有未知物,将涂层制成薄片进样测量XPS谱,由C1s和F1s峰可知涂层是碳氟材料。
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